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产品名称: CST-50冲击试样缺口投影仪
CST-50冲击试样缺口投影仪
  • CST-50冲击试样缺口投影仪

CST-50冲击试样缺口投影仪

简介: CST-50冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口质量而设计、开发的一种专用光学仪器,与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,对比直观,操作简单,效率高。是理化试验室的必备专用设备。
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产品简介:

CST-50冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口质量而设计、开发的一种专用光学仪器,与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,对比直观,操作简单,效率高。是理化试验室的必备专用设备。

技术参数:

投影屏: 200×200mm

放大倍数: 50X

光源: 12V 100W(卤钨灯)

电源: 220V 50Hz 150W

外型尺寸: 515×224×603mm

重量: 约18Kg

- 主要参数

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